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21.07.2017

Leitfaden „Generic IC EMC Test Specification“ Version 2.1

Dieses Dokument definiert gemeinsame Tests, die das EMV-Verhalten von integrierten Schaltkreisen (ICs) hinsichtlich HF-Emission und HF-Immunität im Frequenzbereich von 150 kHz bis zu 3 GHz sowie Pulsimmunität und Systemebene ESD, basierend auf internationalen Standards für integrierte, charakterisieren Schaltungen und zugehörige Normen für IC-Anwendungen. Es enthält alle Informationen, um jede Art von ICs in der gleichen Weise zu bewerten. In diesem Dokument werden allgemeine Informationen und Definitionen von IC-Typen, Pin-Typen, Test- und Messnetzwerken, Pin-Auswahl, Betriebsarten und Limit-Klassen gegeben. Dies ermöglicht es dem Benutzer, eine EMV-Spezifikation für einen dedizierten IC zu erstellen sowie vergleichbare Ergebnisse für vergleichbare ICs zu liefern.

Die Revision 2.1 der generischen IC EMV Test Spezifikation ist eine Erweiterung der vorherigen Version mit neuen und aktualisierten Testmethoden und Testdefinitionen. Es beschreibt nun auch HF-Immunität und Emissionsprüfung bis zu 3 GHz sowie transienten Puls- und unpowered System Level ESD-Tests für integrierte Schaltungen.

Der Leitfaden ist nur in englischer Sprache erhältlich.

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